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Fachbereich 3: Fertigungsmesstechnik

Fachausschuss 3.40 Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik


Arbeiten und Zielsetzung

Der VDI/VDE-GMA Fachausschuss 3.40 dient dem Erfahrungsaustausch in den Bereichen Herstellung und Reproduzierbarkeit von Kalibriernormalen, physikalische Grundlagen verschiedener Messverfahren, Messgrößen und deren Messunsicherheiten, sowie Vorzüge von Messgeräte diverser Hersteller für konkrete Anwendungen.

 

Vorhandene Richtlinien, z. B. aus der GPS-Normenreihe werden auf ihre Übertragbarkeit in den Mikro- und Nanometermassstab geprüft und an den notwendigen Stellen ergänzt. Das Fachgebiet gliedert sich in die Unterausschüsse Geometrische Messgrößen, Nichtgeometrische Messgrößen und Normale, Kalibrierung. Die erarbeiteten Ergebnisse werden der Öffentlichkeit in Form von Internet, Workshops und Tagungen sowie verschiedenen Richtlinien zur Verfügung gestellt.

 

Kooperierende Fachausschüsse

Die nachfolgenden Fachausschüsse arbeiten mit dem Fachausschuss 3.40 unmittelbar zusammen:

Vorsitzender:

Prof. Dr.-Ing. Jörg Seewig, Kaiserslautern

 

Stellvertreter:

Dr. Sven Schröder, Jena  


   

 
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