VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Richtlinien
VDI-Richtlinie: VDI/VDE 5575 Blatt 4
| Technische Regel: | Richtlinie |
| ICS: | 17.180.30 |
| Deutscher Titel: | Röntgenoptische Systeme - Röntgenspiegel - Totalreflexions- und Multischichtspiegel |
| Englischer Titel: | X-ray optical systems - X-ray mirrors - Total reflection mirrors and multilayer mirrors |
| Ausgabedatum: | 2011-08 |
| Erhältlich in: | deutsch / englisch |
| Herausgeber: | VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik |
| Autor: | Fachbereich Optische Technologien |
| zugehörige Handbücher: | VDI/VDE-Handbuch Mikro- und Feinwerktechnik VDI/VDE-Handbuch Optische Technologien VDI/VDE-Handbuch Prozessmesstechnik und Strukturanalyse |
| Seitenanzahl: | 19 |
| Preis: | 65,60 EUR |
| Kurzreferat: | Diese Richtlinie bezieht sich sowohl auf reflektive röntgenoptische Systeme, die auf der Nutzung der Totalreflexion beruhen als auch auf Multischichtsystemen welche die Bragg-Reflexion an inneren Grenzflächen zur Beeinflussung der spektralen Zusammensetzung und Richtungscharakteristik nutzen. Die physikalischen Prinzipien und bestimmende Parameter dieser Röntgenspiegel werden beschrieben. Rolle und Einfluss von Substrat und Beschichtungen werden im Detail erläutert und Totalreflexions- und Multischichtspiegel für verschiedene Anwendungen diskutiert. Die gebräuchlichsten röntgenoptischen Systeme, die Röntgenspiegel nutzen, (Kirkpatrick-Baez-, Wolter-, Schwarzschild-, Montel- und EUVL-Optiken) werden kurz vorgestellt. |
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