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VDI-Richtlinie

VDI/VDE 2655 Blatt 2.1 Optische Messtechnik an Mikrotopografien; Verfahren der Rauheitsmessung

Allgemein
Kurzreferat
Projektbeschreibung:

Mit der Anwendung dieser Richtlinie werden folgende Ziele verfolgt:

Bessere Vergleichbarkeit von Oberflächenmessungen mit verschiedenen Mikroskopen sowie zwischen Mikroskopen und Tastschnittgeräten mit den Normen und Normalen für Tastschnittgeräte, Festlegung von Bedingungen für die Rückführung von Rauheitskenngrößen auf die nationale Normale, Feststellung der Kalibrierfähigkeit und Festlegung des Gültigkeitsbereiches einer Kalibrierung

Festlegung von Mindestanforderungen an den Kalibriervorgang und an Abnahmebedingungen, Bereitstellung eines GUM-konformen Modells zur Messunsicherheitsberechnung des Messvorgangs mit einem Interferenzmikroskop

Festlegung der Anforderungen an einen Ergebnisbericht

Mögliche interessierte Kreise:

Hersteller und Anwender von optischer Messtechnik, insbesondere Rastersondenmikroskope, konfokale Mikroskope; Kalibrierlabore für o.g. optische Messtechnik

 

Möglicher Erscheinungstermin:

2021-04

Deutscher Titel:

Optische Messtechnik an Mikrotopografien; Verfahren der Rauheitsmessung

Herausgeber:

VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)

Autor:

Fertigungsmesstechnik

Zugehörige Handbücher: VDI/VDE-Handbuch Fertigungsmesstechnik
VDI/VDE-Handbuch Prozessmesstechnik und Strukturanalyse
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