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VDI-Richtlinie: VDI/VDE 2655 Blatt 1.2 Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung

Kommentar
Allgemein
Kurzreferat
Kurzreferat:

Die Richtlinie beschreibt Verfahren zur Kalibrierung bildgebender konfokaler Mikroskope und Tiefeneinstellnormale für die Rauheitsmessung und bilden damit die Grundlage zur Rückführung von Messsystemen auf nationale Normale.Zunächst wird die Vergehensweise zur Ermittlung der Kalibrierfähigkeit beschrieben. Weiterhin werden Rahmenbedingung für die Kalibrierung sowie Mindestanforderungen an den Kalibriervorgang festgelegt. Schließlich werden noch die Anforderungen an den Ergebnisbericht festgelegt. Ein GUM-konformes Model für die Ermittlung der Messunsicherheit vervollständigt die Verfahrensanweisung.

Inhaltsverzeichnis: der Richtlinie einsehen
Schlagwörter:

Abnahmebedingung, Achse, Anforderung, Berechnung, Ebenheit, Eigenschaft, Grenzwellenlänge, Messgerät, Messtechnik, Messung, Messunsicherheit, Messverfahren, Mikroskop, Mikroskopie, normal, Oberfläche, Oberflächenmessgerät, optisches System, Rauheit, Rückverfolgbarkeit, Tastschnittgerät, Topographie, Vergleichbarkeit

Datum:

2010-10

Überprüft und bestätigt:

2018-12

Deutscher Titel:

Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung

Englischer Titel:

Optical measurement of microtopography - Calibration of confocal microscopes and depth setting standards for roughness measurement

Technische Regel: Richtlinie
Herausgeber:

VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik

Autor:

Fachbereich Fertigungsmesstechnik

Zugehörige Handbücher: VDI-Handbuch Produktionstechnik und Fertigungsverfahren Band 3
VDI/VDE-Handbuch Fertigungsmesstechnik
VDI/VDE-Handbuch Optische Technologien
Preis:

99,80 EUR

Seitenanzahl:

36

ICS-Nummer:

17.180.01

Erhältlich in:

Deutsch, Englisch

Schlagwörter:

Abnahmebedingung, Achse, Anforderung, Berechnung, Ebenheit, Eigenschaft, Grenzwellenlänge, Messgerät, Messtechnik, Messung, Messunsicherheit, Messverfahren, Mikroskop, Mikroskopie, normal, Oberfläche, Oberflächenmessgerät, optisches System, Rauheit, Rückverfolgbarkeit, Tastschnittgerät, Topographie, Vergleichbarkeit

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VDI/VDE 2655 Blatt 1.2

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