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VDI-Richtlinie: VDI/VDE 5575 Blatt 2 Röntgenoptische Systeme - Messverfahren - Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme

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Kurzreferat
Kurzreferat:

Die Richtlinie beschreibt den Messaufbau und die Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme. Es werden Verfahren zur Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von Röntgenstrahlung und zur spektralen Analyse vorgestellt. Koordinatensysteme zur eindeutigen Beschreibung des Messaufbaus werden definiert. Geeignete Positionier- und Detektorsysteme für die unterschiedlichen Messaufgaben werden aufgeführt. Es wird eine Übersicht über gebräuchliche Röntgenquellen mit den für die Vermessung relevanten typischen Eigenschaften gegeben.

Inhaltsverzeichnis: der Richtlinie einsehen
Schlagwörter:

Bewertung, Detektor, Eigenschaft, Formelzeichen, Größe, Kenngröße, Kennzeichnung, Messtechnik, Messwesen, Optik, Optiksystem, optisches System, Positionierung, Präzision, Röntgen, Röntgenstrahlen

Datum:

2015-06

Deutscher Titel:

Röntgenoptische Systeme - Messverfahren - Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme

Englischer Titel:

X-ray optical systems - Measurement methods - Measurement set-up and methods for the evaluation of X-ray optical systems

Technische Regel: Richtlinie
Herausgeber:

VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik

Autor:

Fachbereich Optische Technologien

Zugehörige Handbücher: VDI/VDE-Handbuch Optische Technologien
VDI/VDE-Handbuch Prozessmesstechnik und Strukturanalyse
Preis:

92,60 EUR

Seitenanzahl:

31

ICS-Nummer:

17.180.30

Erhältlich in:

Deutsch, Englisch

Schlagwörter:

Bewertung, Detektor, Eigenschaft, Formelzeichen, Größe, Kenngröße, Kennzeichnung, Messtechnik, Messwesen, Optik, Optiksystem, optisches System, Positionierung, Präzision, Röntgen, Röntgenstrahlen

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VDI/VDE 5575 Blatt 2

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