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VDI/VDE 5575 Blatt 2 Röntgenoptische Systeme - Messverfahren; Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme

Auf einen Blick

Englischer Titel
X-ray optical systems - Measurement methods; Measurement set-up and methods for the evaluation of X-ray optical systems
Erscheinungsdatum
2019-12
Herausgeber
VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Autor
Fachbereich Optische Technologien
Zugehörige Handbücher
Seitenanzahl
31
Erhältlich in
Deutsch, Englisch
Kurzreferat

Die Richtlinie beschreibt den Messaufbau und die Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme. Es werden Verfahren zur Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von Röntgenstrahlung und zur spektralen Analyse vorgestellt. Koordinatensysteme zur eindeutigen Beschreibung des Messaufbaus werden definiert. Geeignete Positionier- und Detektorsysteme für die unterschiedlichen Messaufgaben werden aufgeführt. Es wird eine Übersicht über gebräuchliche Röntgenquellen mit den für die Vermessung relevanten typischen Eigenschaften gegeben.

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