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VDI-Richtlinie: VDI/VDE 5575 Blatt 4 Röntgenoptische Systeme - Röntgenspiegel und Röntgenspiegelsysteme - Totalreflexions- und Multischichtspiegel

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Allgemein
Kurzreferat
Kurzreferat:

Diese Richtlinie bezieht sich auf reflektive Röntgenoptiken, die auf der Nutzung der Totalreflexion sowie auf Multischichtsystemen auf Basis der Braggreflexion an inneren Grenzflächen zur Beeinflussung der spektralen Zusammensetzung und der Richtungscharakteristik beruhen. Die physikalischen Prinzipien und bestimmende Parameter dieser Röntgenspiegel werden beschrieben. Die Rolle und der Einfluss von Substrat und Beschichtung werden im Detail erläutert und Totalreflexions- und Multischichtspiegel für verschiedene Anwendungen diskutiert. Die gebräuchlichsten röntgenoptischen Systeme, die Röntgenspiegel nutzen, wie Kirkpatrick-Baez-, Wolter-, Schwarzschild-, Montel- und EUVL-Optiken, werden kurz vorgestellt. Diese Richtlinie wendet sich an Anwender, Entwickler und Hersteller von Röntgenspiegeln. Typische Anwendungsgebiete sind Laborgeräte, die Röntgenstrahlung z.B. für Diffraktion, Spektroskopie, Streuung, Tomografie und Mikroskopie nutzen, aber auch die Instrumentierung für Synchrotronstrahlung an Elektronenspeicherringen und Freie-Elektronen-Lasern. Weitere Anwendungsfelder sind die EUV-Lithografie und die Röntgenastrophysik.

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Schlagwörter:

Beschichtung, Größe, Kennzeichnung, Messtechnik, Messwesen, Optik, Optiksystem, physikalische Eigenschaft, reflektierend, Reflektion, Röntgen, Röntgenstrahlen, spektral

Datum:

2018-09

Deutscher Titel:

Röntgenoptische Systeme - Röntgenspiegel und Röntgenspiegelsysteme - Totalreflexions- und Multischichtspiegel

Englischer Titel:

X-ray optical systems - X-ray mirrors and X-ray mirror systems - Total reflection mirrors and multilayer mirrors

Technische Regel: Richtlinie
Herausgeber:

VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik

Autor:

Fachbereich Optische Technologien

Zugehörige Handbücher: VDI/VDE-Handbuch Optische Technologien
VDI/VDE-Handbuch Prozessmesstechnik und Strukturanalyse
Preis:

74,00 EUR

Seitenanzahl:

19

ICS-Nummer:

17.180.30

Erhältlich in:

Deutsch, Englisch

Schlagwörter:

Beschichtung, Größe, Kennzeichnung, Messtechnik, Messwesen, Optik, Optiksystem, physikalische Eigenschaft, reflektierend, Reflektion, Röntgen, Röntgenstrahlen, spektral

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VDI/VDE 5575 Blatt 4

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