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VDI-Richtlinie: VDI/VDE 5575 Blatt 6 Röntgenoptische Systeme - Reflexionszonenplatten

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Allgemein
Kurzreferat
Kurzreferat:

Reflexionszonenplatten haben spektral selektive und zugleich fokussierende und dispersive Eigenschaften. Sie werden unter anderem in der Röntgenmikroskopie und der Röntgenspektroskopie eingesetzt. Die Richtlinie beschreibt die physikalischen Grundlagen von Reflexionszonenplatten für Röntgenstrahlen. Als wichtige Bauformen werden Totalreflexions- sowie Bragg-Fresnel-Zonenplatten vorgestellt. Der Aufbau der Reflexionszonenplatten, typische Parameter zur Charakterisierung und die Abhängigkeiten zwischen einzelnen Kenngrößen werden diskutiert. Diese Richtlinie definiert wichtige Kenngrößen von Reflexionszonenplatten und erleichtert damit die Kommunikation zwischen Anbietern und Nutzern dieser Röntgenoptiken. Insbesondere ermöglicht es diese Richtlinie Entwicklern von röntgenoptischen Systemen, Reflexionszonenplatten als Element für Röntgenmikroskope und Spektroskopie richtig zu bewerten und zu spezifizieren.

Inhaltsverzeichnis: der Richtlinie einsehen
Schlagwörter:

Bauform, Beeinflussung, Fokussierung, Kennzeichnung, Messtechnik, Messwesen, Mikroskopie, Optik, Optiksystem, optisches System, physikalische Eigenschaft, reflektierend, Reflexion, Röntgen, Röntgenstrahlen, Röntgenstrahlung, Spektroskopie

Datum:

2018-09

Deutscher Titel:

Röntgenoptische Systeme - Reflexionszonenplatten

Englischer Titel:

X-ray optical systems - Reflexion zone plates

Technische Regel: Richtlinie
Herausgeber:

VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik

Autor:

Fachbereich Optische Technologien

Zugehörige Handbücher: VDI/VDE-Handbuch Optische Technologien
VDI/VDE-Handbuch Prozessmesstechnik und Strukturanalyse
Preis:

40,30 EUR

Seitenanzahl:

8

ICS-Nummer:

17.180.30

Erhältlich in:

Deutsch, Englisch

Schlagwörter:

Bauform, Beeinflussung, Fokussierung, Kennzeichnung, Messtechnik, Messwesen, Mikroskopie, Optik, Optiksystem, optisches System, physikalische Eigenschaft, reflektierend, Reflexion, Röntgen, Röntgenstrahlen, Röntgenstrahlung, Spektroskopie

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VDI/VDE 5575 Blatt 6

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