VDI/VDE 2655 Blatt 2.1
-
Projekt
Optische Messtechnik an Mikrotopografien; Verfahren der Rauheitsmessung
Auf einen Blick
- Englischer Titel
-
Optical measurement of microtopography; Methods of roughness measurement
- Mögliches Erscheinungsdatum
- 2028-04
- Herausgeber
- Mess- und Automatisierungstechnik
- Autor
- Digitalisierung und Virtualisierung
- Zugehörige Handbücher
- Kurzreferat
-
Mit der Anwendung dieser Richtlinie werden folgende Ziele verfolgt:
Bessere Vergleichbarkeit von Oberflächenmessungen mit verschiedenen Mikroskopen sowie zwischen Mikroskopen und Tastschnittgeräten mit den Normen und Normalen für Tastschnittgeräte, Festlegung von Bedingungen für die Rückführung von Rauheitskenngrößen auf die nationale Normale, Feststellung der Kalibrierfähigkeit und Festlegung des Gültigkeitsbereiches einer Kalibrierung
Festlegung von Mindestanforderungen an den Kalibriervorgang und an Abnahmebedingungen, Bereitstellung eines GUM-konformen Modells zur Messunsicherheitsberechnung des Messvorgangs mit einem Interferenzmikroskop
Festlegung der Anforderungen an einen Ergebnisbericht
