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VDI/VDE 2655 Blatt 2.1 - Projekt Optische Messtechnik an Mikrotopografien; Verfahren der Rauheitsmessung

Auf einen Blick

Englischer Titel
Optical measurement of microtopography; Methods of roughness measurement
Mögliches Erscheinungsdatum
2025-04
Herausgeber
VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Autor
Fachbereich Fertigungsmesstechnik
Zugehörige Handbücher
Kurzreferat

Mit der Anwendung dieser Richtlinie werden folgende Ziele verfolgt:

Bessere Vergleichbarkeit von Oberflächenmessungen mit verschiedenen Mikroskopen sowie zwischen Mikroskopen und Tastschnittgeräten mit den Normen und Normalen für Tastschnittgeräte, Festlegung von Bedingungen für die Rückführung von Rauheitskenngrößen auf die nationale Normale, Feststellung der Kalibrierfähigkeit und Festlegung des Gültigkeitsbereiches einer Kalibrierung

Festlegung von Mindestanforderungen an den Kalibriervorgang und an Abnahmebedingungen, Bereitstellung eines GUM-konformen Modells zur Messunsicherheitsberechnung des Messvorgangs mit einem Interferenzmikroskop

Festlegung der Anforderungen an einen Ergebnisbericht

FAQ

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