Direkt zum Inhalt

VDI/VDE 2655 Blatt 2.1 - Projekt

Optische Messtechnik an Mikrotopografien; Verfahren der Rauheitsmessung

Auf einen Blick

Englischer Titel

Optical measurement of microtopography; Methods of roughness measurement

Mögliches Erscheinungsdatum
2028-04
Herausgeber
Mess- und Automatisierungstechnik
Autor
Digitalisierung und Virtualisierung
Zugehörige Handbücher
Kurzreferat

Mit der Anwendung dieser Richtlinie werden folgende Ziele verfolgt:

Bessere Vergleichbarkeit von Oberflächenmessungen mit verschiedenen Mikroskopen sowie zwischen Mikroskopen und Tastschnittgeräten mit den Normen und Normalen für Tastschnittgeräte, Festlegung von Bedingungen für die Rückführung von Rauheitskenngrößen auf die nationale Normale, Feststellung der Kalibrierfähigkeit und Festlegung des Gültigkeitsbereiches einer Kalibrierung

Festlegung von Mindestanforderungen an den Kalibriervorgang und an Abnahmebedingungen, Bereitstellung eines GUM-konformen Modells zur Messunsicherheitsberechnung des Messvorgangs mit einem Interferenzmikroskop

Festlegung der Anforderungen an einen Ergebnisbericht

FAQ

Stellen Sie Ihre Frage / Nehmen Sie Kontakt mit uns auf

Teilen