Direkt zum Inhalt

VDI/VDE 5575 Blatt 2

X-ray optical systems - Measurement methods; Measurement set-up and methods for the evaluation of X-ray optical systems

Auf einen Blick

Englischer Titel

Röntgenoptische Systeme - Messverfahren; Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme

Erscheinungsdatum
2019-12
Herausgeber
Engl. VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Zugehörige Handbücher
Seitenanzahl
31
Erhältlich in
Deutsch, Englisch
Kurzreferat

The standard describes the measurement set-up and methods to evaluate X-ray optical systems. Methods to characterise geometric properties of X-rays are described as well as approaches for their spectral analysis. Coordinate systems for non-ambiguous description of the measurement set-up are defined. Positioning and detector systems suitable for the different measurement tasks are specified. An overview of common X-ray sources is given. The typical properties of the different X-ray sources relevant for their measurement are described.

Inhaltsverzeichnis der Richtlinie ansehen

Richtlinie bestellen

Preis ab
98,10 EUR inkl. MwSt.
Bei Beuth bestellen

FAQ

Stellen Sie Ihre Frage / Nehmen Sie Kontakt mit uns auf

Teilen