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DIN ISO 16000-21 Innenraumluftverunreinigungen - Teil 21: Nachweis und Zählung von Schimmelpilzen - Probenahme von Materialien (ISO 16000-21:2013)

Auf einen Blick

Englischer Titel
Indoor air - Part 21: Detection and enumeration of moulds - Sampling from materials (ISO 16000-21:2013)
Erscheinungsdatum
2014-05
Herausgeber
VDI/DIN-Kommission Reinhaltung der Luft (KRdL) - Normenausschuss
Zugehörige Handbücher
Seitenanzahl
20
Erhältlich in
Deutsch
Kurzreferat

Schimmelpilze ist ein allgemein gebräuchlicher Name für Fadenpilze aus unterschiedlichen taxonomischen Gruppen (Ascomyceten, Zygomyceten) und ihren anamorphen Stadien, früher Deuteromyceten oder Fungi imperfecti genannt. Sie bilden ein Myzel (Hyphen) und Sporen, durch die sie makroskopisch sichtbar werden. Die meisten Sporen liegen im Größenbereich von 2 µm bis 10 µm; einige sind bis zu 30 µm und nur einige wenige bis zu 100 µm groß. Sporen einiger Schimmelpilzgattungen sind sehr klein und leicht luftgängig (z. B. Aspergillus, Penicillium); andere hingegen sind größer und/oder in einer Schleimmatrix (Stachybotrys, Fusarium) eingebettet und damit weniger mobil. Schimmelpilzsporen sind im Außenluftbereich weit verbreitet und kommen daher auch im Innenraum in unterschiedlichen Konzentrationen vor. Das Wachstum von Schimmelpilzen im Innenraumbereich sollte aber als hygienisches Problem angesehen werden, da epidemiologische Studien deutlich machen, dass Feuchtigkeit und/oder das Wachstum von Schimmelpilzen in Häusern eng mit gesundheitlichen Problemen bei Bewohnern zusammenhängen. Standardisierte Verfahren für Probenahme, Nachweis und Zählung von Schimmelpilzen sowie für die Probenahmestrategie sind wichtig für eine vergleichende Bewertung von Schimmelpilzschäden im Innenraumbereich. Vor Beginn jeglicher Messungen sollte ein Plan zur Messstrategie erstellt werden. Dieser Teil der ISO 16000 beschreibt Probenahmeverfahren für Schimmelpilze von Baumaterialien. Das in diesem Teil der ISO 16000 beschriebene Verfahren basiert auf Teilen der VDI 4300 Blatt 10. Mit Schimmel befallene Materialien werden entweder durch eine Oberflächenbeprobung (siehe 7.1) oder eine Materialtiefenbeprobung (siehe 7.2), d. h. Untersuchung des gesamten Materials oder einer Materiallage von definierter Tiefe untersucht. Die anzuwendenden Verfahren hängen vom Ziel der Untersuchung ab, so wie dies in ISO 16000-19 beschrieben ist. Oberflächen werden unter Einsatz des Abklatsch-Verfahrens (siehe 7.1.1), des Klebefilm-Verfahrens (siehe 7.1.2) oder des Abstrich-Verfahrens (siehe 7.1.3) beprobt. Nach der Probenahme können die Schimmelpilzsporen mithilfe der direkten Mikroskopie (siehe 7.3) analysiert oder nach dem Suspensionsverfahren aufgearbeitet und kultiviert werden (siehe 7.4). Das Kultivierungsverfahren wird in ISO 16000-17 beschrieben.

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